定向耦合器[1]作为微波电路中重要的无源器件,可以在输入输出端口间实现功率分配,并保持一定的相位差,广泛应用于混频器、平衡放大器以及阵列天线馈电网络等方面。近年来,基于不同传输线结构的高性能定向耦合器不断出现,如波导[2]、基片集成波导[3]、微带线[4]和悬置带状线[5–6]等。悬置带状线中的电场主要分布在空气腔中,具有损耗低、色散低、等效介电常数低以及电磁兼容性好等优点。然而传统的悬置带状线由金属腔体构成,加工相对复杂、成本较高。新型介质集成悬置线(SISL)[7-9]采用印制电路板(printed circuit board,PCB)加工工艺替代金属腔体加工,保留了悬置带状线的优点,同时具有成本低、重量轻和自封装等优势。方同轴传输线[10]具有宽频带、低色散以及结构稳定的特点,在航天领域得到了应用。本文提出了一种新型SISL分支线定向耦合器,在SISL的基础上借鉴同轴结构的优势,将空气腔中心填充表面敷铜、由金属通孔包围的介质基板,使耦合器分支线形成类似于同轴的传输结构,进一步减小了色散,提高了结构的稳定性。采用同轴接头进行直接馈电,省去过渡结构,既缩小了尺寸,又降低了损耗。
1 介质集成悬置线结构及设计图1为SISL的三维结构图,由5层双面敷铜的介质基板构成,介质基板和金属层自上而下分别命名如图1所示。将第2层和第4层介质基板局部切除形成空气腔,在空气腔周围由金属通孔模拟金属波导的边界条件,实现电磁屏蔽,其横截面如图2所示。5层介质基板(substrate,Sub)材料均为FR-4,微波电路设计在Sub3的上层G5金属层。
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图 1 SISL三维结构 |
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图 2 SISL横截面示意 |
根据参考文献[11],SISL传输线的等效介电常数为
${\varepsilon _{\rm{e}}} = \frac{{{h_3} + {h_4}}}{h}\left( {1 + \frac{{{h_2}{\varepsilon _{\rm{r}}}}}{{{h_4}{\varepsilon _{\rm{r}}} + {h_3}}}} \right)$ | (1) |
式中:h=h2+h3+h4,其中,h2、h3、h4分别为第2、3、4层介质基板的厚度;
特征阻抗为
${Z_{\rm{0}}} = \frac{{{Z_{\rm{0}}}^\prime }}{{\sqrt {{\varepsilon _{\rm{e}}}} }}$ |
式中
${Z_{\rm{0}}}^\prime = \frac{{120{\rm{{\text{π}} }}({h_3} + {h_4})}}{{{w_{\rm{s}}}}}$ |
其中
本设计采用同轴直接馈电,在选择介质基板高度和空气腔宽度时,应使SMA接头的法兰盘完全遮盖空气腔,形成封闭结构,并且使耦合器馈线的金属导带宽度大于同轴接头探针宽度。
设计介质基板厚度h1=0.6 mm,h2=1 mm,h3=0.6 mm,h4=1 mm,h5=0.6 mm;空气腔宽度wa=8 mm。保持其他参数不变,改变第3层介质基板Sub3上面的金属导带宽度ws,SISL特征阻抗变化趋势如图3所示。选择合适的线宽,即可得到需要的SISL特征阻抗。
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图 3 SISL特征阻抗与线宽ws的关系 |
如图4所示,分支线定向耦合器由2条主线和2条分支线组成,其中分支线的长度和间距均为
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图 4 分支线定向耦合器原理 |
耦合器散射参数[12]为
$ {S} = - \frac{1}{{\sqrt 2 }}\left[ {\begin{array}{*{20}{c}} 0&j&1&0 \\ j&0&0&1 \\ 1&0&0&j \\ 0&1&j&0 \end{array}} \right] $ |
基于上述原理,设计一款中心频率工作于2.45 GHz的SISL分支线定向耦合器,其金属导带所在的G5金属层结构如图5(a)所示。在正交混合网络的中心敷铜,使每一条支线都保持相同尺寸的SISL传输通路,通路两侧用金属通孔模拟金属边界条件,实现电磁屏蔽。介质基板堆叠利用金属通孔进行定位,铆钉穿过金属通孔将5层介质基板铆接在一起,实现SISL结构的自封装。
由上述分析可知,若通过介质堆叠形成空气腔,需要将Sub2拆分成5块介质基板,其形状尺寸如图5(b)所示。其中Sub2-3的存在不仅提高了SISL结构的稳定性,而且具有降低色散、减小损耗的优势。由图4可知,耦合器各分支线设计初始线长为四分之一波长,可由式(1)计算得SISL等效介电常数,进而求得初始线长。分支线特征阻抗分别为
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图 5 SISL结构平面示意 |
为验证SISL分支线定向耦合器的低损耗特性,利用HFSS仿真工具进行全波仿真。设计相同工作频率的微带(microstrip)分支线定向耦合器,介质基板采用厚度为0.6 mm的FR-4,对比2种结构的损耗曲线如图6所示。
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图 6 SISL耦合器与微带线耦合器损耗对比 |
由文献[13]可知功率损耗Ploss计算公式为
${P_{\rm{loss}}} = 1 - {\left| {{S_{11}}} \right|^2} - {\left| {{S_{21}}} \right|^2} - {\left| {{S_{31}}} \right|^2} - {\left| {{S_{41}}} \right|^2}$ |
仿真结果表明,SISL定向耦合器的损耗在整个频段内均远低于微带线结构,并且随着频率的升高,二者之间的差别越来越大,印证了SISL定向耦合器的低损耗特性。
3 测试结果与分析耦合器整体尺寸为53.6 mm×58.3 mm×3.8 mm,实物如图7和图8所示。在实际加工时,将SMA接头的法兰盘焊接到SISL结构G1层和G10层,实现共同接地。在Sub1和Sub5耦合器端口处增加一排金属通孔,缩短电流路径,改善过渡结构的电性能。
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图 7 SISL耦合器加工实物 |
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图 8 SISL每层介质基板加工实物 |
定向耦合器仿真与实测结果如图9和图10所示,测试仪器使用Agilent矢量网络分析仪。在中心频率2.45 GHz处,回波损耗和隔离度均优于28 dB。频率在2.3~2.6 GHz时,回波损耗和隔离度均高于20 dB;传输端口|S21|为−3.12 dB,幅度不平衡度为±0.18 dB;耦合端口|S31|为−3.39 dB,幅度不平衡度为±0.15 dB;输出端口之间的相位差为90°±1°。SISL结构等效介电常数低,受介质基板参数影响很小,因此仿真与实测结果吻合良好。
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图 9 SISL定向耦合器仿真与实测S参数 |
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图 10 SISL定向耦合器仿真与实测输出端口相位差 |
表1为本设计与其他文献中定向耦合器性能对比,其中相对带宽的指标为回波损耗和隔离度,均优于20 dB。由表1可知,SISL不仅以低成本的介质基板实现了耦合器优良的电性能,并且具有损耗小、自封装等优势,工程应用价值较高。
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表 1 定向耦合器性能对比 |
本文设计了一种中心频率工作于2.45 GHz的新型基于SISL分支线3 dB定向耦合器,与传统耦合器结构相比,主要具有如下特点。
1)提出一种基于SISL分支线3 dB定向耦合器结构,将第2层和第4层介质基板分解,使耦合器的每条支路保持相同的SISL传输结构,降低了色散,提高了结构稳定性。
2)馈电方式采用同轴直接馈电,去掉过渡结构,在介质基板的馈电端口处添加金属通孔提高电性能,既减小了尺寸,又降低了电路损耗。
3)基于SISL传输线结构,利用金属通孔模拟金属波导边界条件,电磁波主要在空气中传播,具有损耗小、受介质基板参数影响小、电磁兼容性好和自封装等优势。
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