2. 沈阳师范大学 实验教学中心 沈阳 110034
2. Experimental Teaching Center, Shenyang Normal University, Shenyang 110034, China
2000年以来,随着高温行业以及工业发展,中国成为世界耐火材料的生产和出口大国[1]。菱镁矿是耐火材料的基础原料,由于其具有较高的耐火性、黏结性等特点,已被广泛应用于冶金、建材、化工、造纸工业、航天航空、汽车、农牧及尖端科学研究等领域[2-4]。
菱镁矿是提纯、生产镁制品的主要原材料,准确的测量镁元素含量对菱镁矿的开采、提纯工艺具有指导意义。目前常用于镁元素检测的方法有化学法、重量法、乙二胺四乙酸(Ethylenediaminetetraacetic Acid, EDTA)滴定法、原子吸收光谱法(Atom Absorption Spectrometry, AAS)、电感耦合等离子体发射光谱法(Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer, ICP-AES)、X射线荧光(X-ray Fluorescence, XRF)光谱法等[5],但化学法操作程序复杂,分析周期长,费用高,大大降低了分析效率[6-8]。AAS的测量范围在0.1%-10%之间时具有较高精度,而ICP-AES光谱法对含量较高的元素测量结果误差较大,因此发展一种准确、快速、低成本、测量范围大的镁元素科学检测方法就变得十分关键和必要。
能量色散X射线荧光(Energy Dispersive X-ray Fluorescence, EDXRF)光谱法因其分析精度高、用时少、分析周期短、分析元素范围广、检出限低、可实现在线分析等优点,已被广泛应用于许多领域。但对于荧光产额、激发效率较低的轻元素,其直接探测效果要劣于高原子序数元素,而对于超轻元素(如H、Li、He等),目前还不能直接进行测量。
本文依据EDXRF的测量原理,采用目标元素间接测量的方法,通过对样品进行前期化学反应处理将菱镁矿中Mg元素用中等原子序数Ba替代,再通过测量Ba元素的含量,反演计算出Mg元素含量,达到分析的目的。该方法克服了EDXRF对轻元素直接探测效率差、结果精度低的缺点,为轻元素镁的定量分析提供了一种快速、准确、经济的检测方法。
1 实验部分 1.1 方法的选取菱镁矿中除了含有大量的镁元素外,还含有少量的以氧化物形式存在的铁、铝、钙、硅以及酸不溶物等。首先,滴加稀硫酸将镁与酸不溶物分离,并使镁、铝、铁以离子的形式存在于溶液中,此时溶液显微酸性。反应方程式如下:
| ${\rm{MgO}} + {\rm{2}}{{\rm{H}}^ + } + {\rm{S}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}}^{2 - } = {\rm{M}}{{\rm{g}}^{{\rm{2}} + }} + {\rm{S}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}}^{2 - } + {{\rm{H}}_{\rm{2}}}{\rm{O}}$ |
| ${\rm{F}}{{\rm{e}}_{\rm{2}}}{{\rm{O}}_{\rm{3}}} + {\rm{6}}{{\rm{H}}^ + } + 3{\rm{S}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}}^{2 - } = 2{\rm{F}}{{\rm{e}}^{{\rm{3}} + }} + 3{\rm{S}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}}^{2 - } + 3{{\rm{H}}_{\rm{2}}}{\rm{O}}$ |
| ${\rm{A}}{{\rm{l}}_{\rm{2}}}{{\rm{O}}_{\rm{3}}} + {\rm{6}}{{\rm{H}}^ + } + 3{\rm{S}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}}^{2 - } = 2{\rm{A}}{{\rm{l}}^{{\rm{3}} + }} + 3{\rm{S}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}}^{2 - } + 3{{\rm{H}}_{\rm{2}}}{\rm{O}}$ |
| ${\rm{CaO}} + {{\rm{H}}_{\rm{2}}}{\rm{S}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}} = {\rm{CaS}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}} \downarrow + {{\rm{H}}_{\rm{2}}}{\rm{O}}$ |
继续向溶液中滴加氢氧化钠溶液,根据反应顺序,当pH值在7-8时,溶液中铁离子和铝离子跟氢氧根(OH-)反应形成沉淀,镁离子继续留在溶液中[9]。此时在烧杯中的沉淀物是由除镁以外的菱镁矿中的其他物质组成,将这部分沉淀称为空白沉淀。
| ${\rm{F}}{{\rm{e}}^{3 + }} + 3{\rm{N}}{{\rm{a}}^ + } + 3{\rm{O}}{{\rm{H}}^ - } = {\rm{Fe(OH}}{{\rm{)}}_{\rm{3}}} \downarrow + 3{\rm{N}}{{\rm{a}}^ + }$ |
| ${\rm{A}}{{\rm{l}}^{3 + }} + 3{\rm{N}}{{\rm{a}}^ + } + 3{\rm{O}}{{\rm{H}}^ - } = {\rm{Al(OH}}{{\rm{)}}_{\rm{3}}} \downarrow + 3{\rm{N}}{{\rm{a}}^ + }$ |
向溶液中继续滴加适量的BaCl2溶液直到不再产生BaSO4沉淀为止,空白沉淀和BaSO4沉淀共同存在于烧杯的底部。此BaSO4沉淀量是由Na2SO4和MgSO4共同决定的。
| ${\rm{N}}{{\rm{a}}_{\rm{2}}}{\rm{S}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}} + {\rm{BaC}}{{\rm{l}}_{\rm{2}}} = {\rm{BaS}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}} \downarrow + 2{\rm{NaCl}}$ |
| ${\rm{MgS}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}} + {\rm{BaC}}{{\rm{l}}_{\rm{2}}} = {\rm{BaS}}{{\rm{O}}_{\rm{4}}} \downarrow + {\rm{MgC}}{{\rm{l}}_{\rm{2}}}$ |
利用EDXRF测量此时沉淀中Ba的含量记为CBa(Mg+Na),再由上述添加的NaOH溶液的量(WNa)计算出与钠反应的钡的量CBa(Na)。则与镁反应的Ba的量CBa(Mg),可由式(1) 求得。
| ${C_{{\rm{Ba(Mg)}}}} = {C_{{\rm{Ba(Mg + Na)}}}} - {C_{{\rm{Ba(Na)}}}}$ | (1) |
仪器:能量色散X射线荧光源是由自主研制的配电系统与国产小口径、低功率侧窗Mo靶X射线管构成[8];探测器采用美国AMPTEK公司生产的XR-100T-CdTe电制冷半导体探测器;德国赛多利斯万分之一天平;德国莱驰公司RM200研磨机;天津科器高新技术公司粉末压片机;玛瑙研钵;烘箱,碱式滴定管等。
试剂:菱镁矿(中国营口大石桥);稀硫酸;20%氢氧化钠溶液;BaCl2溶液;BaSO4粉末(试剂均为分析纯,国药集团化学试剂有限公司)。
测量条件:为了提高仪器在测量过程的稳定性及测量精度,降低检出限,根据目标元素特征谱激发电位,优化了Ba元素的测量条件[10],特征峰Kα,最佳管压46kV,最佳管流10μA,测量时间120s,仪器预热时间20min。
1.3 样品制备试样制备:将菱镁矿研磨至200目,称取4份质量为0.1g的菱镁矿粉末样品,编号。向其中滴加H2SO4,之后用碱式滴定管滴加浓度为20%的NaOH溶液直到溶液pH值在7-8之间。继续向4组溶液中滴加BaCl2溶液直到不再产生沉淀为止,静置、过滤,用烘箱干燥(温度控制在80-100 ℃之间)1h后得到滤饼沉淀,用电子天平称量每组滤饼沉淀的总质量(Wl)。再称取0.5g滤饼沉淀应用粉末压片机制得直径为10mm的压片试样,密封、待测,压片条件为压片机型号769YP-40C,压片时间5min,压力6MPa,压片直径10mm。
标样制备:将菱镁矿研磨至200目,加稀H2SO4,用碱式滴定管向其中滴加浓度为20%的NaOH溶液,控制溶液的pH值在7-8之间,静置、过滤,用烘箱(温度控制在80-100 ℃之间)干燥,得到空白沉淀。将空白沉淀与BaSO4粉末按表 1配比值进行混合、压片、编号,置于密封袋中待测。
| 表 1 标准样品含量配制比例 Table 1 Ratio of standard sample contents. |
在最佳测量条件下利用EDXRF分析仪对标准样品进行分析,每组标样测量10次,对Ba元素特征峰进行寻峰识谱得到特征峰的净面积YBa(如图 1,表 2)。以标准样品含量XBa为横轴、Ba元素特征峰净面积YBa为纵轴进行曲线拟合,得到Ba元素净面积计数与含量之间的函数关系曲线为Y=8879.94+174.24X,相关系数的平方R2=0.9986,如图 2所示。
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图 1 Ba元素特征峰寻峰谱 Figure 1 Spectra of Ba element characteristic peak. |
| 表 2 标准样品分析数据 Table 2 Analysis data of standard samples. |
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图 2 钡元素定标曲线 Figure 2 Calibration curve of Ba element. |
用EDXRF分析仪对试样样品进行分析,寻得Ba元素的净面积计数,利用定标曲线计算出试样中Ba元素含量为51.25%,再根据Mg、Ba之间的数量关系,反演计算出镁元素含量为29.43%,相对标准偏差(Relative Standard Deviation, RSD)为0.58%,实验过程数据及实验结果见表 3,钡和镁的关系曲线如图 3所示。
| 表 3 实验过程数据及实验结果 Table 3 Experimental data and measuring results. |
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图 3 钡元素与镁元素的关系曲线 Figure 3 Relation curve of Ba and Mg. |
取空白沉淀与硫酸钡粉末制成4份钡含量不同的验证样品。在最佳激发条件下分别对每个验证样品测量10次,寻得其钡元素峰值计数,求得平均值,带入定标曲线中计算出各个验证样品Ba含量及RSD,并将分析结果与配比值进行比较(见表 4),相差均小于0.13%,说明定标曲线准确度良好。
| 表 4 验证样品测量结果 Table 4 Measured results of validated samples (%). |
由表 4可知,RSD均小于0.6%,且每次测量结果的相对误差值均小于0.4%,说明实验结果精确度较高。同时,为检验测量结果的可靠程度,我们用ICP-AES方法对样品进行对比测量,结果镁元素含量为29.71%,与本方法的测量结果仅差0.28%,体现出良好的一致性。
2.3 方法的稳定性X射线荧光光谱仪的稳定性会受到X射线管老化、周围环境、电源稳定性等因素的影响。通常稳定性用极差ΔI来量度,各组样品中的极差值均小于3%,说明仪器的稳定性较高。
2.4 重复性评价在一个月内对4个试样样品进行5次测量,并计算出平均值及RSD,如表 5所示。RSD均小于0.1%,说明实验方法的重复性好。
| 表 5 重复性测量结果 Table 5 Results for repetitive measurements (%). |
采用间接测量的方法,应用能量色散X射线荧光光谱仪完成了对菱镁矿中镁元素含量的测定。利用化学方法对菱镁矿进行前处理,以Ba为中间关联元素,通过Ba元素的测量,并依据Mg与Ba的数量关系,得到菱镁矿中Mg元素的含量为29.43%,RSD为0.58%。该方法具有较高的准确度,且重复性和稳定性好,具有简单、快速、准确的特点,可满足对菱镁矿中Mg元素的定量分析的需要。
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