中国辐射卫生  2015, Vol. 24 Issue (5): 480-483  DOI: 10.13491/j.cnki.issn.1004-714x.2015.05.011

引用本文 

宋卓人, 刘岳洲. 窄束X-γ射线打靶反散射剂量分布[J]. 中国辐射卫生, 2015, 24(5): 480-483. DOI: 10.13491/j.cnki.issn.1004-714x.2015.05.011.
SONG Zhuo-ren, LIU Yue-zhou. Backscatter Dose Distribution of Narrow X-γ Rays Shooting Mode[J]. Chinese Journal of Radiological Health, 2015, 24(5): 480-483. DOI: 10.13491/j.cnki.issn.1004-714x.2015.05.011.

文章历史

收稿日期:2015-01-12
修回日期:2015-04-28
窄束X-γ射线打靶反散射剂量分布
宋卓人 , 刘岳洲     
杭州市环境监测中心站, 浙江 杭州 310007
摘要目的 利用窄束X-γ射线打靶模型分析现场探伤时反散射射线剂量分布。方法 通过康普顿散射模型和蒙特卡罗程序MCNP 4C模拟多种打靶条件下反散射剂量分布。结果 反散射射线致剂量在接近±90°时数值最小, 最大值出现在接近0°的某处, 并随着射线能量的增加而趋于0°。结论 在实际现场探伤中人员应在垂直射线入射方向上寻找最优化撤离隐蔽方案。
关键词现场探伤    反散射    剂量分布    隐蔽    
Backscatter Dose Distribution of Narrow X-γ Rays Shooting Mode
SONG Zhuo-ren , LIU Yue-zhou     
Hangzhou Environmental Monitoring Center Station, Hangzhou 310007 China
Abstract: Objective Using narrow X-γ ray shooting model to analyse backscatter dose distribution. Methods Simulate the backscatter dose distribution in multiple condition by Compton scattering model and monte carlo program MCNP4C. Results The minimum value of backscatter dose is close to ±90°, the maximum value appeared in somewhere close to 0°, and with the increase of radiation energy the value tends to 0°. Conclusion People should be on the vertical beam direction for evacuation or hiding in X-γ ray defect detecting on-the-spot.
Key words: X-γ Ray Defect Detecting on-the-Spot    Backscatter    Dose Distribution    Hiding    

射线探伤是无损探伤的重要方法之一。根据探伤的形式一般可分为专用探伤室探伤和现场探伤, 专用探伤室探伤时, 探伤机和工件一起载入探伤室中, 工作人员在探伤室外远程作业, 射线被探伤室屏蔽, 工作人员受射线影响较小。当被测工件外形较大, 或工件被安装在生产线、管道等设备上无法移出时, 只能进行现场探伤, 现场探伤作业前会根据工件厚度、探伤机的性能、剂量场参数划分监督区和控制区, 进行有效的清场以防止公众人员误进入, 公众基本不会受到超过剂量限值的照射。但由于探伤机、工件和工作人员均暴露在同一空间中, 工作人员受场所条件所限, 即使采用20 m长电缆远距离曝光或30 s延时曝光技术, 部分恶劣工作环境下, 工作人员也难以完全撤离至监督区外, 此时只能选择就地隐蔽, 为降低射线对工作人员的损伤, 保护工作人员健康, 本文从X-γ射线反散射模型上讨论合理的撤离或隐蔽方向。

1 建模与分析

工作中, 一般不会选择射线透射方向作为人员隐蔽方向, 故本文以反散射方向上的剂量数值讨论人员的合理隐蔽方向。

1.1 反散射射线来源

X-γ射线虽然射线发生方式不同, 能量不同, 但本质均为光子, 他们与物质作用方式最主要有光电效应、电子对效应、康普顿散射三种, 见图 3。发生光电效应时, 入射光子消失, 靶物质内束缚电子被轰出, 打出光电子; 入射射线能量大于1.02 MeV时产生电子对效应, 正负电子对随即湮没成光子发出, 且随着入射射线能量的增高其发射方向趋于前倾[1]。康普顿散射时, 光子与原子核外电子发生非弹性碰撞, 入射光子损失一部分能量改变入射方向从物质表面散射。

实际工作中使用的X射线探伤机一般不超过250 kV, 采用192Ir或75Se的γ探伤机射线能量也不超过0.81 Mev或0.39 MeV, 由图 1可知, 一般探伤作业时, 射线与物质相互作用主要为光电效应和康普顿散射, 射线与物质的多次康普顿散射是反散射射线的主要来源。二次以上的康普顿散射作用原理非常复杂, 本文采用数值方法讨论一次康普顿散射时反散射方向上通量变化, 并用MCNP软件模拟不同条件下反散射剂量数值变化。

图 1 按光子能量和原子序数表示三种相互作用占优势的区域
1.2 反散射射线能量和通量分布

图 2~图 4

图 2 康普顿散射模型示意图

图 3 康普顿散射射线通量角分布示意图

图 4 康普顿散射射线致剂量角分布示意图(60~120 keV)

能量为hv的入射射线轰击靶材料, 忽略核外电子束缚能以及二次以上的康普顿效应, 反散射射线能量为:

(1)

式中:m0c2是电子静止能量0.511 MeV。

由Klein-Nishina可得出入射能量为hv射线在不同散射角的微分散射截面, 在单位立体角dΩ内散射概率为:

(2)

r0为电子的经典半径, r0=2.818 × 10-13 cm, a=, 所以当立体角不变时, 探测器所在立体角内被散射光子通量为:

(3)

探测器所在立体角dΩ与该散射方向上锥顶角之间关系如下:

(4)
(5)

由公式(3)可得出, 不同散射角下单位立体角内反散射射线通量为入射射线能量的函数, 与靶物质材料、靶物质厚度等均无关。利用数值方法对公式(3)积分可以得出不同能量入射线下各角度的散射粒子通量, 图 3分别是入射线能量为60, 80, 120, 510 keV时散射射线通量角分布, 通常反散射粒子通量在± 90°时最小, 与文献[1]一致。

实际由于靶材料对入射线的多次散射, 在不同立体角时实际散射线能谱为康普顿平台上叠加的特征峰, 这在文献中得以证实[2], 当次级带电粒子平衡时, 该点位的空气吸收剂量为:

(6)

式中:ϕE为光子数量按光子能量的微分分布; fX (E)为光子能量为E的照射量因子[3]

当不考虑多次康普顿散射效应造成的康普顿平台所致吸收剂量, 依公式1得出探测器所在角度的散射射线能量, 依公式6得出单次康普顿效应所致吸收剂量角分布, 如图 4图 5。由图得知, 反散射射线所致吸收剂量最小处一般出现在± 90°, 最大值近似出现在0°, 随着入射射线变硬, 透射射线比重增加。当考虑多次康普顿散射效应造成的康普顿平台所致吸收剂量, 则该积分十分复杂, 一般采用蒙卡软件进行计算。

图 5 康普顿散射射线致剂量角分布示意图(510 keV)
1.3 蒙卡模拟

建立如图 4模型, 坐标中心为边长1 m的正方形靶, 距靶中心20 cm处为放射源, 射线发射方向为Y轴负方向, 距靶10 m处YOZ平面上每10°依次放置19个点探测器, 利用F5卡和DE/DF卡分别计算每个探测器处空气吸收剂量率。

为探讨不同条件下探测器处空气吸收剂量率分别如下改变模型:①保持入射射线能量120 keV, 靶厚度1 cm, 更换靶材料为铁、镍, 铜, 不锈钢; ②保持入射射线能量120 keV, 更改靶厚度1 cm, 5 cm, 10 cm; ③保持靶厚度1 cm不变, 更改入射射线能量从40 keV~ 300 keV; ④保持靶厚度1 cm不变, 保持入射射线能量120 keV不变, 更改入射射线照射野的锥顶角10°, 20°, 30°。

图 6 反散射模型示意图
1.4 数据分析

以YOZ坐标系分析, 计算数据显示, 归一化之后, 反散射射线整体剂量分布与靶物质厚度几乎无关, 这与前文康普顿散射模型分析结论一致; 随靶物质原子序数(材料变硬)的增加(不锈钢采用等效原子序数), 光电截面变大, 反散射射线变少; 在接近± 90°时剂量数值最小, 最大值出现在接近0°的某处, 并随着射线能量的增加而趋于0°; 当射线照射野的变大之后, 吸收剂量最小值加速稳定出现在± 90°处。见图 7~图 10

图 7 不同靶材料时反散射射线剂量角分布

图 8 不同靶厚度时反散射射线剂量角分布

图 9 不同入射射线能量时反散射射线剂量角分布

图 10 不同照射野时反散射射线剂量角分布 (采用对数坐标)
1.5 实际监测

采用137Cs放射源模拟窄束射线打靶, 137Cs放射源2006年出厂活度7.4 × 109Bq (0.2 Ci), 采用铅罐外加准直器方式获取窄束射线, 用FH 40G-10外接FHZ 672E-10剂量率仪对反散射射线监测, 如图 9, 放射源距离靶中心30 cm, 监测点位距离靶中心100 cm, 监测角度0°~90°, 监测结果为表 1所示。由监测结果可得, 剂量率数值从0°到90°为递减趋势, 在90°时达到剂量率数值最小值, 符合上述结论。

图 11 137Cs窄束射线打靶

表 1 137Cs窄束射线打靶剂量率监测结果
2 结论

现场探伤作业时, 移动式X射线装置控制器和X射线管头或高压发生器的连接电缆一般不少于20 m, 有些探伤机可以采用延时曝光, 当场地条件允许时, 工作人员一般可以撤退到相对安全的位置, 但当场地受限或撤退时间有限时, 工作人员则必须考虑最优化的隐蔽位置或撤离路径, 依上文论证, 在射线入射垂直方向撤离或隐蔽可满足最优化要求。

参考文献
[1]
复旦大学清华大学北京大学. 原子核物理实验方法[M]. 北京: 原子能出版社, 1997.
[2]
董文斌.利用康普顿背散射的蒙特卡罗模拟分析物质组成的研究[D].长春: 吉林大学, 2008. http://cdmd.cnki.com.cn/Article/CDMD-10183-2008060268.htm
[3]
方杰. 辐射防护导论[M]. 北京: 原子能出版社, 1991.
[4]
许淑艳. 蒙特卡罗方法在实验核物理中的应用[M]. 北京: 原子能出版社, 1996.
[5]
MCNP4c.Monte Carlo Noutron and Photo Tranport code system.2000-4-10.
[6]
中华人民共和国环境保护局.HJ/T 61-2001辐射环境监测技术规范[S].北京: 中国环境科学出版社, 2001.
[7]
中华人民共和国卫生部.GBZ 117-2006工业X射线探伤放射卫生防护标准[S].北京: 中国标准出版社, 2006.