中国辐射卫生  2006, Vol. 15 Issue (4): 402-404  DOI: 10.13491/j.cnki.issn.1004-714x.2006.04.009

引用本文 

杨龙, 王奕萍, 荣曙, 赵国良, 许祥裕, 罗成基, 程天民. 电离辐射对大鼠脑皮质牛磺酸、谷氨酸及其谷氨酸阳性神经元的影响[J]. 中国辐射卫生, 2006, 15(4): 402-404. DOI: 10.13491/j.cnki.issn.1004-714x.2006.04.009.
YANG Long, WAHG Yi-ping, RONG Shu, et al. Changes of Tau, Glu and Glu-positive Neurons in Cerebral cortex of Rats after Ionizing Irradiation[J]. Chinese Journal of Radiological Health, 2006, 15(4): 402-404. DOI: 10.13491/j.cnki.issn.1004-714x.2006.04.009.

基金项目

江苏省人事厅博士后基金(2004-100)江苏省"六大人才高峰"资助项目(2005)

文章历史

收稿日期:2006-02-28
电离辐射对大鼠脑皮质牛磺酸、谷氨酸及其谷氨酸阳性神经元的影响
杨龙 1, 王奕萍 2, 荣曙 1, 赵国良 1, 许祥裕 1, 罗成基 3, 程天民 3     
1. 南京军区军事医学研究所博士后科研工作站, 江苏 南京 210002;
2. 江苏省肿瘤医院;
3. 第三军医大学全军复合伤研究所
摘要目的 探讨电离辐射对大鼠脑皮质内谷氨酸(glutamate, Glu)、牛磺酸(taurine, Tau)水平和谷氨酸阳性神经元的影响。方法 雄性SD大鼠45只随机分为3组, 头部分别给予0、10、20 Gy 60Coγ射线照射。照射后12h测定脑皮质谷氨酸(Glu)、牛磺酸的含量以及神经细胞内游离Ca2+浓度([Ca2+]i), 同时观察大鼠脑皮质Glu阳性神经元以及神经细胞凋亡情况。结果 随着照射剂量的增加, 脑皮质内Glu含量升高, Tau含量减少, Glu/Tau比值逐渐上升, 细胞内游离Ca2+浓度([Ca2+]i)升高, Glu阳性神经元数量增加, 细胞凋亡数量上升, 并与电离辐射呈一定的量效关系。结论 上述结果提示Glu产生的神经毒作用参与了电离辐射对中枢神经系统的损伤过程。
关键词电离辐射    脑损伤    谷氨酸    牛磺酸    细胞内游离Ca2+浓度([Ca2+]i)    细胞凋亡    
Changes of Tau, Glu and Glu-positive Neurons in Cerebral cortex of Rats after Ionizing Irradiation
YANG Long 1, WAHG Yi-ping 2, RONG Shu 1 , et al     
Naning Region Military Medical Institate, Nanjing 210002 China
Abstract: Objective To study the alterations of Tau, Glu and Glu-positive neurons in cerebral cortex of rats after ionizing irradiation. Methods 45 SD rats were randomly divided into three groups, the rats were irradiated on the brain with 0, 10 and 20 Gy by 60Coγ-ray respectively.After 12h, the levels of Tau and Glu were measured and the alterations of Glu-positive neurons and apoptosis were observed in rat cerebral cortex. Results After irradiated, the content of Tau was decreased and the content of Glu was increased in the rat cerebral cortex, and the ratio of Glu/Tau were went up significantly.The amount of Glu-positive neurons and apoptosis were augmented in the rat cerebral cortex in a dose-effect manner. Conclusion Under ionizing irradiation brain injury, the changes of Glu coincides with the apoptosis in cerebral cortex.Our study indicate that neuro-toxin of Glu might play an important role in mechanism of ionizing irradiation brain injury.
Key words: Ionizing Irradiation    Brain Injuries    Glutamate    Taurine    Free Intracellular Ca2+([Ca2+]i)    Apoptosis    

随着放化疗在神经系统原发或转移性肿瘤治疗中的广泛应用, 电离辐射导致的中毒性脑白质病呈逐渐增多的趋势。中毒性脑白质病表现为注意力不集中、健忘、性格改变、痴呆、昏迷、甚至死亡, 严重影响肿瘤治疗疗程的顺利进行以及康复期的生活质量[1]。氨基酸是中枢神经系统重要的神经递质或神经调质, 大致可分为兴奋性以及抑制性神经递质两大类。其中谷氨酸(glutamate, Glu)介导兴奋性突触传递, 突触间过量的Glu会引起神经元损伤甚至死亡, 称为Glu兴奋毒性。研究表明, Glu兴奋毒性在中枢神经系统缺血、创伤及神经退行性疾病的神经元死亡中起着重要作用[2]。而牛磺酸对缺血、惊厥等引起的神经元损害具有对抗作用。本实验拟研究电离辐射作用后大鼠脑皮质内Glu、Tau水平和Glu阳性神经元的变化及意义。

1 材料与方法 1.1 实验动物

45~50 d龄的成年Sprague-Dawley雄性大鼠45只, 每只重200~250 g, 由第三军医大学实验动物中心提供, 动物(饲料)许可证号SCXK-(军)2002007, 动物实验设施许可证号SCXK-(军)2002-032。在昼夜交替、室温20 ~23 ℃的环境中饲养, 自由饮水、进食。

1.2 实验分组、屏蔽、照射处理

大鼠适应环境3 d后, 随机分3组:正常对照组; 10 Gy头部照射组; 20 Gy头部照射组; 屏蔽:动物3%戊巴比妥钠溶液腹腔麻醉后固定体位, 用5 cm ×8 cm ×16 cm两块铅砖重叠自颈部屏蔽下半身; 照射:用第三军医大学辐照中心60Coγ射线一次性照射, 源距100 cm, 剂量率68.46 cGy/min, 吸收剂量分别为0、10、20 Gy, 室温下进行。

1.3 检测方法 1.3.1 脑皮质谷氨酸、牛磺酸水平测定

在照射12 h后, 每组取大鼠5只, 断头处死, 迅速取大脑皮质约100 mg, 准确称量后置于匀浆器中, 按比例加入10%磺基水杨酸, 冰浴匀浆, 取出匀浆液立即离心(15 000 rpm 4 ℃离心20 min), 取上清液冻存, 待分析。用Beckman公司的6 300黄金系列氨基酸分析仪601黄金系统色谱工作站定量分析谷氨酸、牛磺酸含量(Glu、Tau标准品为Sigma产品)。色谱条件:色谱柱:Beckman氨基酸分析锂柱(10 cm×4.0 mm); 流动相:Li -A、Li -C、Li -R, 流速10 ml/h; 茚三酮显色剂:流速10 ml/h; 柱温:33.5 ℃; 进样量:50lμ/次; 比色波长:570 nm。

1.3.2 神经细胞内钙离子水平测定

在照射12 h后, 每组取3只, 断头取脑, 分离大脑皮层单细胞[3]。用2 μmol/L Fluo-3 AM及0.1% F-127 (Biotium产品)37 ℃负载45 min, 再用Neurobasal培养基(GIBCO产品)充分洗涤盖玻片3次, 充分洗掉未进入细胞内的荧光探针, 并继续在37 ℃保持30 min, 以利于进入细胞内酯化的Fluo-3/AM水解。激光共聚焦显微镜下测量各组细胞内游离Ca2+浓度([Ca2+]i)。

1.3.3 免疫组织化学结合激光扫描共聚焦显微镜检测Glu阳性神经元

照射后24 h, 以0.3%戊巴比妥钠腹腔麻醉(20 mg/kg), 开胸, 经左心室用200 ml 4 ℃预冷40 g/L多聚甲醛灌注15 min, 取脑固定。脱水、透明、石蜡包埋, 连续切片(片厚6 μm)。脱蜡, 切片经0.01 mol/L PBS漂洗, 微波修复10 min, 甲醇/H2 O2 (9:1)室温封闭15 min; 入1 %牛血清白蛋白/0.5 %TritonX -100 37 ℃孵育30 min; 含5%-10%正常羊血清PBS孵育10 min; 加入1:1 000稀释的第一抗体(兔抗大鼠Glutamate:Sigma产品) 37 ℃孵育2 ~3 h; 加入1:200 FITC标记的第二抗体(羊抗兔IgG, 北京中杉产品), 室温30 min; 用甘油和0.5MpH为9.0 ~ 9.5的碳酸盐缓冲液的等量混合液作封裱剂封片。激光扫描共聚焦显微镜(Leica TCS -NT型, 德国)观察, 测定单位面积(mm2)阳性细胞核数及相对荧光强度, 激光光源为12 W氩离子激发器, 可激发波长488、514 nm。对照实验:用PBS代替第一抗体溶液孵育切片, 其余步骤同上, 作为免疫组织化学反应的阴性对照, 用以检测免疫组织化学反应的特异性。

1.3.4 细胞凋亡检测

按TUNEL原位凋亡检测试剂盒(Roche产品)说明进行。阳性对照用DNA酶(25 mg/ml)室温处理5 min, 阴性对照采用标记液(无TdT)代替TUNEL反应混合物。显微镜下计数每张切片随机计数10个视野的的TUNEL阳性细胞, 每组3张切片平均。同一实验重复3次结果平均。结果用细胞凋亡率表示, 其算式如下:

1.4 统计方法

实验数据用x±s表示, 经SPSS软件进行方差分析, 采用卡方检验。

2 结果 2.1 电离辐射对脑皮质内氨基酸含量影响

电离辐射后12 h测定脑皮质氨基酸含量(表 1), 结果表明, 随着照射剂量的增大, 脑皮质兴奋性氨基酸Glu含量呈现增加的趋势, 而抑制性氨基酸Tau则随着照射剂量的增大逐渐减少, Glu/Tau比值逐渐上升, 与照射剂量之间存在一定的剂量-效应关系(P < 0.01)。

表 1 电离辐射后脑皮质内氨基酸含量的改变
2.2 电离辐射对脑皮质神经元内[Ca2+]i水平的影响

电离辐射后12 h, 用Ca2+荧光标记探针Fluo-3/M标记脑皮质神经元, 在激光共聚焦扫描显微镜下观察, 通过测定细胞内荧光的强弱来间接反映细胞内Ca2+浓度的大小(表 2, 图 1), 结果显示, 随着照射剂量的增大, 神经元内[Ca2+]i呈现逐步增加的趋势, 且荧光强度的增加与照射剂量之间存在一定的剂量-效应关系; 与脑皮质内兴奋性氨基酸Glu含量增加相一致(P < 0.01)。

表 2 电离辐射对脑皮质神经元内[Ca2+]i水平的影响

图 1 电离辐射后大鼠脑神经元内[Ca2+]i的变化
2.3 电离辐射对脑皮质谷氨酸阳性神经元影响

照射后24 h, 用免疫组织化学结合激光扫描共聚焦显微镜检测Glu阳性神经元(表 3, 图 234), 结果显示, 电离辐射作用后, 大鼠脑皮质浅层Glu阳性神经元呈弥漫性分布, Glu阳性神经元数量增加, 细胞内相对荧光强度显著增强, 与照射剂量之间存在一定的剂量-效应关系(P < 0.01)。

表 3 电离辐射作用后大鼠脑皮质内Glu阳性神经元的变化

图 2 0 Gy辐射后大鼠脑皮质谷氨酸阳性神经

图 3 10 Gy辐射后大鼠脑皮质谷氨酸阳性神经元

图 4 20 Gy辐射后大鼠脑皮质谷氨酸阳性神经元
2.4 电离辐射诱导脑皮质神经细胞凋亡

照射后24 h, 用TUNEL法检测脑皮质神经细胞凋亡情况(表 4), 结果显示, 电离辐射作用后, 大鼠脑皮质内TUNEL阳性细胞呈弥漫性分布, 细胞凋亡率增加, 并随照射剂量的增大而增加(P < 0.01)。

表 4 电离辐射作用后大鼠脑皮质内神经细胞凋亡的变化
3 讨论

随着放化疗在神经系统原发及其转移肿瘤治疗中的广泛应用, 电离辐射导致的中毒性脑白质病呈逐渐增多的趋势。晚期放射性脑损伤的病理学改变表现为白质坏死和脱髓鞘, 而这些改变的发生机理, 特别是在急性和亚急性期的病理生理学过程至今所知不多。随着放射治疗疗效的提高和诊断手段的更新, 肿瘤患者对生存期生活质量要求日益迫切, 对放射性脑损伤防护的研究更有意义[4]

氨基酸是中枢神经系统重要的神经递质或神经调质, 大致可分为兴奋性以及抑制性神经递质两大类。兴奋性氨基酸(EAA)包括Glu的兴奋毒性参与了脑卒中、创伤、癫痫、慢性神经变性性疾病等的神经元死亡[5]。现已明确, Glu的兴奋毒性是Glu在突触间的过量释放及对突触后神经元的进一步激活。其作用机制为:过量释放的Glu激活突触后膜上的谷氨酸受体, 引起相应的离子通道开放, 影响Na+、Cl-、Ca2+等的跨膜流动, 主要导致细胞内Ca2+浓度升高(称为细胞内Ca2+超载), 过量的Ca2+激活细胞内Ca2+依赖的信号级联途径, 最终导致神经细胞死亡。其中, 细胞内Ca2+超载是Glu兴奋毒性引起神经细胞死亡的中心环节。该过程被认为可能是各种损伤因素导致神经元死亡的“最后公路”, 因而被称为EAA毒性损伤学说[6]。因此有学者提出“放射性脑损伤与缺血性损伤可能存在共同发病机理”的学说, 认为虽然造成大脑损伤的启动因子不同, 但继发性大脑损伤的机理却存在相似或共同的病理过程[7]。牛磺酸(taurine, Tau)是人体内含量较高的自由氨基酸, 在中枢神经系统可作为渗透压调节剂、抑制性的神经调质和神经递质[8]。研究发现, Tau对缺血、惊厥等引起的神经元损害具有对抗作用, 这种保护作用是通过对抗兴奋性氨基酸、过氧化物和调节细胞内Ca2+水平实现的。细胞外牛磺酸可能作为对抗兴奋毒性的一个重要保护机制[9]。本研究用0、10、20Gy 60Coγ射线头部照射造成脑部放射损伤模型, 在12 h后测定脑皮质Glu、Tau的含量, 结果显示, 随着照射剂量的增大, Glu的含量逐渐增加; 而Tau的含量则随着照射剂量的增大逐渐减少, Glu/Tau比值上升。用Fluo-3/AM为荧光剂, 激光共聚焦显微镜下测量细胞内游离Ca2+浓度([Ca2+]i):随着照射剂量的增大, 细胞相对荧光强度呈增加趋势。用免疫组织化学结合激光扫描共聚焦显微镜检测Glu阳性神经元, 电离辐射可使Glu阳性神经元数量增加, 细胞内相对荧光强度增强, 与照射剂量之间存在一定的剂量-效应关系。TUNEL检测结果表明, 电离辐射可导致脑皮质神经元发生细胞凋亡, 凋亡发生率与照射剂量成正比, 与文献报道一致。因此, 我们推测电离辐射诱导中枢神经系统神经元谷氨酸大量释放, 牛磺酸产生减少, Glu/Tau比值上升, 引起中枢神经组织内兴奋性神经毒性递质抑制性神经递质比例失调, 引起细胞外Ca2+内流及细胞内钙库的Ca2+动员, 导致细胞内Ca2+超载, 可能是电离辐射导致神经细胞损伤、神经功能异常的重要因素。调控中枢神经系统氨基酸类神经递质的代谢平衡, 尤其是增加牛磺酸等抑制性神经性递质的水平, 可能作为电离辐射神经系统损伤防护的途径之一[10]

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